3.7.3　テスト生成

	定義のある用語	紹介だけの用語
	テストパターン
（1） ブール微分	ブール微分（Boolean Difference）
	故障関数
	故障差関数
（2） 等価故障解析	等価故障解析
	等価故障（Equivalent Fault）
（3） テストの品質	テストの品質
	故障検出率（Fault Coverage）
	故障検出効率（Fault Efficiency）
	検出不能故障
	冗長故障（Redundant Fault）
（4） 故障シミュレーション	故障シミュレーション	並列故障シミュレーション
		演繹故障シミュレーション
		同時故障シミュレーション
（5） 組合せ回路のテスト生成アルゴリズム	テスト生成	Dアルゴリズム
	テスト生成アルゴリズム	PODEN
	組合せ回路のテスト生成アルゴリズム	FAN
		SOCRATES
（6） 順序回路のテスト生成アルゴリズム	順序回路のテスト生成アルゴリズム
（7） 遅延故障のテスト生成	遅延故障のテスト生成	ラウンチオフキャプチャ（Launch-Off-Capture）
	２パターンテスト	ブロードサイド（Broad-Side）
	遷移故障（Transition Fault）	ラウンチオフシフト（Launch-Off-Shift）
	パス遅延故障（Path Delay Fault）	スキュードロード（Skewed-Load）
（8） 高位テスト生成	高位テスト生成（High-Level Test Generation）